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发布时间:2020-12-29 09:16:00 作者:大塚电子
大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询!
考虑到表面粗糙度测量的膜厚值[FE-0007]
当样品表面存在粗糙度(粗糙度)时,将表面粗糙度和空气(air)及膜厚材料以1:1的比例混合,模拟为“粗糙层”,可以分析粗糙度和膜厚度。此处示例了测量表面粗糙度为几nm的SiN(氮化硅)的情况。
膜厚仪如何系统校准?
校准的方法、种类,这是新用户经常会遇到的问题。系统校准、零点校准还有两点校准其实都已经在说明书上写到了,用户只需仔细阅读就可以了。需要注意的是:在校准铁基时1好是多测量几次以防止错误操作;系统校准的样片要按照从小到大的顺序进行。如果个别标准片丢失可以找与其数值相近的样片代替。
膜厚仪是一种比较精密的监测设备,它在平时的使用中对于***度的要求很高,但是还是会有误差的现象发生,除了仪器本身的一些故障以外,环境因素也是造成误差的一大“元凶”。
如果膜厚测试仪已经进行了适当的校准,所有的测量值将保持在一定的误差范围内;根据统计学的观点,一次读数是不可靠的。因此任何由膜厚测试仪显示的测量值都是五次“看不见”的测量的平均值。这五次测量是在几分之一秒的时间内由探头和仪器完成的。
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